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Product Center當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心無(wú)損檢測(cè)儀器超聲波測(cè)厚儀
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產(chǎn)品分類(lèi)CMX DL+便攜式超聲波測(cè)厚儀(非金屬涂層) 測(cè)量方式(僅測(cè)量基體厚度、同時(shí)測(cè)量基體和涂層的厚度、僅測(cè)量涂層厚度) 顯示模式(數(shù)字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示僅cmx) 增益可調(diào)節(jié):低、中、高、
MVX便攜式超聲波測(cè)厚儀(A/B掃描功能) A掃描正/負(fù)檢波顯示用于測(cè)厚、探傷和腐蝕坑檢測(cè) B掃描顯示用于顯示被測(cè)材料的截面形狀 自動(dòng)增益控制功能用于不去除涂/鍍層測(cè)量基體厚度
ZX-6DL便攜式超聲波測(cè)厚儀(順豐包郵) 測(cè)量鋼、鑄鐵、塑料、玻璃、鋁、銅等材料的厚度 穿透涂層測(cè)量基體厚度(E-E測(cè)量模式) TDG時(shí)間增益校正功能
ZX-6便攜式超聲波測(cè)厚儀(含102-2700探頭) 測(cè)量鋼、鑄鐵、塑料、玻璃、鋁、銅等材料的厚度 穿透涂層測(cè)量基體厚度(E-E測(cè)量模式) TDG時(shí)間增益校正功能 120MHz FPGA采樣率,150V方波脈沖發(fā)生器 IP65防護(hù)等級(jí)
美國(guó)達(dá)高特ZX-5DL超聲波測(cè)厚儀(順豐包郵) - 聲速測(cè)量模式,可做為超聲波聲速儀(球化率儀) - 差值模式 - 上下限報(bào)警模式 - USB Type-C數(shù)據(jù)接口
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